【機器分析センター】２０１６年度第３回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ（10/24講習会、10/25-26測定デモ）

弘前大学機器分析センターでは、「オージェ電子分光法の基礎と応用」に関するセミナーを開催します。専門家にわかりやすく解説していただきます。またご希望の方には、実際に装置を使用して測定デモを行います。皆様方の多数のご参加をお待ちしております。

「資料提示による講習会」

１．日時：　２０１６年１０月２４日（月）１５：００～１７：００

２．場所：　弘前大学　理工学部１号館　５階　１０番講義室

３．対象：　教職員、学生、一般の方

４．入場：　無料

５．内容：「オージェ電子分光分析法(AES)の基礎と応用」

　　　　　　日本電子（株）SA事業ユニットSAアプリケーション部　主査　堤　建一　氏

　オージェ電子分光分析法(AES)とは、電子線を試料表面に照射し、表面から発生したオージェ電子の運動エネルギーを測定することで、表面構成元素の定性・定量分析を行う手法です。AESは高倍率の面分析や、深さ方向分析や化学状態分析を得意とします。本セミナーでは、AESの原理から最新の応用分析事例までを紹介します。

「装置を使用した測定デモ」

１．日時：　２０１６年１０月２５日（火）～１０月２６日（水）希望者に応じて対応

２．場所：　弘前大学　コラボ弘大　２階　機器分析センター内

３．対象：　教職員、学生、一般の方

４．入場：　無料

５．内容：オージェ電子分光装置「JEOL JAMP-9500F」を用いた、測定・解析方法の講習および各試料を用いた測定デモンストレーション。

＜お問い合わせ先＞

弘前大学大学院 理工学研究科　遠田義晴

電話: 0172-39-3659　E-mail: enta@hirosaki-u.ac.jp

弘前大学機器分析センター長　岡崎雅明

電話: 0172-39-3565　E-mail: mokazaki@hirosaki-u.ac.jp

＜お申し込み先＞

弘前大学機器分析センター　事務局

電話:0172-39-3913   E-mail: kiki@hirosaki-u.ac.jp

• 「資料提示による講習会」は、事前予約なしの当日のご参加も可能ですが、準備の都合上受講を希望する方の氏名、所属、電話番号を明記の上、電子メールによりお申し込みください。
• 「装置を使用した測定デモ」は、基本的に事前予約が必要です。上記同様に、お申し込みください。装置についてお知りになりたい内容や、分析してみたい試料などがございましたら、一緒にお知らせください。