【機器分析センター】2016年度第3回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ(10/24講習会、10/25-26測定デモ)

弘前大学機器分析センターでは、「オージェ電子分光法の基礎と応用」に関するセミナーを開催します。専門家にわかりやすく解説していただきます。またご希望の方には、実際に装置を使用して測定デモを行います。皆様方の多数のご参加をお待ちしております。

 

「資料提示による講習会」

1.日時: 2016年10月24日(月)15:00~17:00

2.場所: 弘前大学 理工学部1号館 5階 10番講義室

3.対象: 教職員、学生、一般の方

4.入場: 無料

5.内容:「オージェ電子分光分析法(AES)の基礎と応用」

      日本電子(株)SA事業ユニットSAアプリケーション部 主査 堤 建一 氏

 オージェ電子分光分析法(AES)とは、電子線を試料表面に照射し、表面から発生したオージェ電子の運動エネルギーを測定することで、表面構成元素の定性・定量分析を行う手法です。AESは高倍率の面分析や、深さ方向分析や化学状態分析を得意とします。本セミナーでは、AESの原理から最新の応用分析事例までを紹介します。

 

「装置を使用した測定デモ」

1.日時: 2016年10月25日(火)~10月26日(水)希望者に応じて対応

2.場所: 弘前大学 コラボ弘大 2階 機器分析センター内

3.対象: 教職員、学生、一般の方

4.入場: 無料

5.内容:オージェ電子分光装置「JEOL JAMP-9500F」を用いた、測定・解析方法の講習および各試料を用いた測定デモンストレーション。

 

<お問い合わせ先>

弘前大学大学院 理工学研究科 遠田義晴

電話: 0172-39-3659 E-mail: enta@hirosaki-u.ac.jp

弘前大学機器分析センター長 岡崎雅明

電話: 0172-39-3565 E-mail: mokazaki@hirosaki-u.ac.jp

<お申し込み先>

弘前大学機器分析センター 事務局

電話:0172-39-3913   E-mail: kiki@hirosaki-u.ac.jp

    • 「資料提示による講習会」は、事前予約なしの当日のご参加も可能ですが、準備の都合上受講を希望する方の氏名、所属、電話番号を明記の上、電子メールによりお申し込みください。
    • 「装置を使用した測定デモ」は、基本的に事前予約が必要です。上記同様に、お申し込みください。装置についてお知りになりたい内容や、分析してみたい試料などがございましたら、一緒にお知らせください。
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