【機器分析センター】２０１６年度第２回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ（10/5開催）

２０１６年度　第２回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ

弘前大学機器分析センターでは、走査型電子顕微鏡および透過型電子顕微鏡の

基本的な原理とアプリケーションに関するセミナーを開催します。

専門家にわかりやすく解説していただきますので、皆様方の多数のご参加をお待ちしております。

１．日時：　２０１６年１０月　５日（水）１４：３０～１７：３０

２．場所：　弘前大学理工学部１号館　４階　８番講義室

３．対象：　教職員、学生、一般の方

４．入場：　無料

５．内容：

i)「TEMによる像観察と分析の基礎と最新技術」

日本電子（株）EM事業ユニット　 参事 　近藤 行人　氏

ii)「SEMで何が分かるのか？SEMの基礎知識と応用、極表面情報を捉える最新技術-」

日本電子（株）SM事業ユニットSMアプリケーション部1T 　山本 康晶　　氏

【案内】第２回セミナー（走査型・透過型電子顕微鏡）

＜お問い合わせ＞

弘前大学機器分析センター長　岡崎　雅明

電話: 0172-39-3565　E-mail: mokazaki@hirosaki-u.ac.jp

＜お申し込み先＞

弘前大学機器分析センター　事務局

電話:0172-39-3913 E-mail: kiki@hirosaki-u.ac.jp

※事前予約なしでの当日のご参加も可能ですが、準備の都合上、

受講を希望する方の氏名、所属、電話番号を明記の上、

電子メールによりお申し込みください。