【機器分析センター】2016年度第2回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ(10/5開催)

2016年度 第2回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ

 

弘前大学機器分析センターでは、走査型電子顕微鏡および透過型電子顕微鏡の

基本的な原理とアプリケーションに関するセミナーを開催します。

専門家にわかりやすく解説していただきますので、皆様方の多数のご参加をお待ちしております。

 

1.日時: 2016年10月 5日(水)14:30~17:30

2.場所: 弘前大学理工学部1号館 4階 8番講義室

3.対象: 教職員、学生、一般の方

4.入場: 無料

5.内容:

i)「TEMによる像観察と分析の基礎と最新技術」

日本電子(株)EM事業ユニット  参事  近藤 行人 氏

 

ii)「SEMで何が分かるのか?SEMの基礎知識と応用、極表面情報を捉える最新技術-」

日本電子(株)SM事業ユニットSMアプリケーション部1T  山本 康晶  氏

 

【案内】第2回セミナー(走査型・透過型電子顕微鏡)

 

<お問い合わせ>

弘前大学機器分析センター長 岡崎 雅明

電話: 0172-39-3565 E-mail: mokazaki@hirosaki-u.ac.jp

<お申し込み先>

弘前大学機器分析センター 事務局

電話:0172-39-3913 E-mail: kiki@hirosaki-u.ac.jp

 

※事前予約なしでの当日のご参加も可能ですが、準備の都合上、

受講を希望する方の氏名、所属、電話番号を明記の上、

電子メールによりお申し込みください。

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